植物生理學(xué)專(zhuān)家Jeff Ritter解讀葉面積指數的實(shí)際應用，以及如何將這些應用結合到生產(chǎn)實(shí)踐中去。
· 研討會(huì )詳情 ·
葉面積指數（LAI）在很多方面有著(zhù)廣泛的應用，包括：土地管理、生態(tài)學(xué)以及與GPP（總初級生產(chǎn)力）相關(guān)的許多方面。然而LAI的測量方法眾多，如何選擇最適宜的，或者最適合的方法就成為一個(gè)需要考慮的問(wèn)題。選擇中，如何權衡準確性和工作強度呢？來(lái)加入2024年2月28日的線(xiàn)上研討會(huì )，一探究竟吧。
這次研討會(huì )將討論如下話(huà)題：
什么是葉面積指數LAI
為什么要測量LAI
直接取樣法，包括落葉收集法
基于地面的間接方法，包括半球成像法
透射與反射對比法
衛星遙感方法
方法的選擇，如何權衡準確性與工作強度
· 主講嘉賓 ·
Jeff Ritter是METER Group的產(chǎn)品經(jīng)理，負責植物、冠層及大氣監測產(chǎn)品。他曾獲華盛頓州立大學(xué)植物生理學(xué)碩士學(xué)位，研究方向是葉片表面氣體交換，以及植物生物化學(xué)對全球碳循環(huán)測量的影響。Jeff Ritter還曾在華盛頓州立大學(xué)作物和土壤科學(xué)系擔任研究教職。
· 如何參加 ·
您可以點(diǎn)擊閱讀原文，直接報名。
考慮到研討會(huì )時(shí)間對中國地區不是很方便，我們會(huì )在研討會(huì )結束后一段時(shí)間為您提供帶中文字幕的研討會(huì )回放，請添加力高泰在線(xiàn)咨詢(xún)微信獲取相關(guān)信息。
